高频特性测量系统Micro Prober MP Series
高精度全自动测定高速传输基板频率特性的行业顶尖装置
一种自动测量裸基板频率特性的装置。同时兼具较高的接触精度和重复稳定性。
由于搭载矢量网络分析仪可以高速测量多块单片基板,因此最适合用于承担5G社会的基板的全数检查和评价、分析工作。
由于搭载矢量网络分析仪可以高速测量多块单片基板,因此最适合用于承担5G社会的基板的全数检查和评价、分析工作。
Micro Prober MP Series的特点
高频特性的全数测量
通过自动化实现了以往较为困难的高频特性的全数测量。![[Image]高频特性的全数测量 Before](./file/643/mp_micro_prober_feature_img01-1.jpg)
![[Image]高频特性的全数测量 After](./file/645/mp_micro_prober_feature_img01-2.jpg)
卓越的重复稳定性和再现性
在基板发生翘曲和变形时也能保持恒定的探头接触条件,因此可实现卓越的测量重复稳定性和再现性。能够明确判断个片之间细微的特性差异。![[Image]卓越的重复稳定性和再现性 Before](./file/659/mp_micro_prober_feature_img02-1.jpg)
![[Image]卓越的重复稳定性和再现性 After](./file/660/mp_micro_prober_feature_img02-2.jpg)
高吞吐量
通过结合多端口VNA可实现量产。实现多个片及多轨迹的批量测量。![[Image]高吞吐量](./file/641/mp_micro_prober_feature_img03.jpg)
品质可视化与100%产品保修
由于可对基板上的实际电路进行全数测量,因此可以对前一工序品质进行反馈,或对后一工序品质进行保证。![[Image]品质可视化与100%产品保修 Before](./file/650/mp_micro_prober_feature_img04-1.jpg)
![[Image]品质可视化与100%产品保修 After](./file/652/mp_micro_prober_feature_img04-2.jpg)
多种测量项目
通过组装市售的VNA,实现满足不同用途的多种测量。(VNA=矢量网络分析仪)![[Image]多种测量项目](./file/647/mp_micro_prober_feature_img05.jpg)
双面测试
通过独立的上下探测测试头可同时应对双面拥有探测点的基板。![[Image]双面测试](./file/651/mp_micro_prober_feature_img06.jpg)
操作简单
简单的治具更换系统、探测位置自动调整,无需特殊技能亦可进行操作。![[Image]操作简单](./file/648/mp_micro_prober_feature_img07.jpg)
100%可追溯性
使各个片的测量结果与基板上的2D条形码联动进行自动保存。![[Image]100%可追溯性](./file/646/mp_micro_prober_feature_img08.jpg)
上下料全自动化*1
全自动基板上下料系统,有助于减少人力、保持品质稳定。*1 Option
![[Image]上下料全自动化](./file/649/mp_micro_prober_feature_img09.jpg)
对象工件
![[Image]刚性基板](./file/461/work_rigid_img.jpg)
刚性基板
![[Image]柔性基板](./file/451/work_flexible_img.jpg)
柔性基板
![[Image]刚柔性基板](./file/453/work_rigidflex_img.jpg)
刚柔性基板